Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva

Imagen del producto:

Las condiciones de trabajo

Temperatura de funcionamiento: 15 ℃-30 ℃, Fuente de alimentación: C.A. 220V±5V

Humedad relativa: < 70%,Sin Ccondensación        Potencia: 95w

2.Ventajas del producto

El espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía QT-XAU es un analizador de espectro altamente integrado desarrollado para pruebas RoHS y análisis de halógenos.

Es ampliamente utilizado en control de calidad, entradainspección, y medición del control del proceso de producción.

1) El conjunto del detector semiconductor Si-PIN mejora enormemente el rango de detección y la precisión.

2) Software cerrado humanizado, evaluación automática de fallas, corrección rápida y pasos de operación para evitar el mal funcionamiento

3) Se detectan elementos nocivos RoHS y halógenos, y el límite de detección puede alcanzar 2 ppm

4) Equipado con tecnología de agregación de bajo nivel de luz, la difusión del punto de alcance más cercano es inferior al 10%

5) Utilizando un sistema de posicionamiento de cámara de alta definición, la muestra se observa claramente y el posicionamiento es preciso

6) El diseño modular altamente integrado de los accesorios principales, estructura compacta, evita interferencias electromagnéticas mutuas, mejora el límite de detección del instrumento y reduce la tasa de fallas del instrumento.

7) Diseño con luz descendente, medición rápida de muestras

8) Detección RoHS de una sola tecla, identificación automática de categorías de materiales y coincidencia automática de programas, para lograr un análisis de una sola tecla

3.Aplicación industrial

RoHS (halógeno) es una norma obligatoria formulada por la legislación de la UE. Se utiliza principalmente para regular los estándares de materiales y procesos de productos eléctricos y electrónicos. El objetivo es eliminar el plomo, mercurio, cadmio, cromo hexavalente, bifenilos polibromados y bifenilos polibromados en productos eléctricos y electrónicos. Hay 6 sustancias en el éter y se estipula que el contenido de plomo no puede exceder el 0,1%.

La norma nacional SJ/T 11365-2006 “Métodos de prueba para sustancias tóxicas y peligrosas en productos de información electrónica” limita los métodos de prueba para elementos nocivos en los requisitos de RoHS. Entre ellos, la espectrometría de fluorescencia de rayos X (XRF) se ha formulado como un método de detección rápido y conveniente. El plomo (Pb), el mercurio (Hg), el cadmio (Cd), el cromo (Cr), el bromo (Br), el cloro (Cl) y otros elementos se pueden analizar con precisión mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X (XRF).

XAU es un detector RoHS (halógeno) desarrollado independientemente porQiantongInstrumentos en combinación con los estándares de prueba RoHS (halógenos) y las necesidades del cliente. Adopta tecnología de detección de espectroscopía de fluorescencia de rayos X e introduce detectores semiconductores Si-PIN de alto rendimiento, lo que mejora enormemente el rendimiento de detección. Alcance y precisión, puede detectar con precisión sustancias dañinas de metales pesados ​​como plomo, mercurio, cadmio, cromo total, bromo total, etc., y se usa ampliamente en la producción de productos electrónicos, fabricación de juguetes, fabricación de hardware, aduanas, agencias de inspección de calidad y otros campos.

4.Especificaciones técnicas

(Si tiene necesidades especiales, puede negociar con Elite Instrument para personalizar el modelo)

5.Interfaz del software

Captura de pantalla de la interfaz de operación del software EFP:

1.Diseño claro de la interfaz de operación

        El diseño simple permite al operador dominar rápidamente el funcionamiento básico del software.

2.Diseño de botones de acceso directo

        Configure el programa de uso frecuente con el botón de acceso directo, la muestra se puede probar sin ingresar a la selección de biblioteca, lo que mejora la eficiencia del trabajo.

3.Alta definición ventana de visualización

El estado de la muestra analizada se puede observar de forma clara e intuitiva.

4.Interfaz de espectro

        El espectro de todos los elementos que contiene la información de la muestra está claramente

mostrado en la interfaz del espectro. Los resultados se pueden calcular con precisión a partir de la información del espectro de la muestra analizada, combinándolos con tecnología avanzada de resolución de espectro.

5.Monitoreo en tiempo real de los parámetros de trabajo.

        Todos los datos del instrumento se pueden observar.inmediatamente. Si hay alguna anomalía, el sistema se lo recordará la primera vez, lo que reducirá en gran medida el error de operación.